雷達(dá)芯片測(cè)試

支持射頻組件一鍵自動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)校準(zhǔn)等功能，主要應(yīng)用至射頻模組、收發(fā)分系統(tǒng)和TR組件等調(diào)測(cè)，全流程自動(dòng)化智能測(cè)試有助于全面提升測(cè)試效率及產(chǎn)能。